

X射線(xiàn)熒光光譜儀分析硅酸鹽巖石-華普通用
硅酸鹽巖石樣品的主次量成分分析是地質(zhì)工作的重要內容。
針對硅酸鹽巖石主次量檢測相關(guān)的方法有: 容量法、分光光度法和原子吸收光譜法相結合的分析方法:對應GB/T14506系列標準,測定Ca,Mg,Mn,K,Na等元素; X射線(xiàn)熒光光譜法:對應標準為GB/T14506.28—2010《硅酸鹽巖石化學(xué)分析方法:16個(gè)主次成分量測定》; 重量法、滴定法、和比色法等純化學(xué)方法; ICP法:對應標準為DZ/T 0279.2-2016《區域地球化學(xué)樣品分析方法第2部分:氧化鈣等27個(gè)成分量測定電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法》。 其中1、3、4方法存在前處理步驟較多、檢測流程較長(cháng)等問(wèn)題;X射線(xiàn)熒光光譜法具有簡(jiǎn)單快速、準確度好、精密度高等優(yōu)點(diǎn),在實(shí)際檢測中,應用廣泛。 本文介紹采用日本理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX PrimusIV分析硅酸鹽巖石的主次量成分。 1. 實(shí)驗儀器與實(shí)驗試劑 ZSX PrimusIV型波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 電子天平 自動(dòng)熔樣機 鉑黃坩堝(95%鉑金+5%黃金) 硝酸鋰溶液 飽和溴化銨溶液 無(wú)水四硼酸鋰,優(yōu)級純 無(wú)水偏硼酸鋰,優(yōu)級純 2. 標準樣品選擇 選取國家硅酸鹽巖石標準物質(zhì),其含量范圍如下: 標準樣品中各成分含量范圍 3. 實(shí)驗步驟 將烘干后的0.70g硅酸鹽樣品,與7.00g混合熔劑混合均勻后,移入鉑黃坩堝,再加入少量硝酸鋰溶液和飽和溴化銨溶液,在熔樣機中以700℃預氧化后升溫至1100℃熔融制成玻璃樣片,于熒光光譜儀上進(jìn)行測定。 4. 標準曲線(xiàn)校正 雖然樣品經(jīng)過(guò)混合熔劑熔融,消除了粒度效應和礦物效應,減少了基體效應,但元素間的影響仍然存在,采用經(jīng)驗系數法和理論α系數進(jìn)行基體效應校正。 5. 方法檢出限 選取各組分含量最低的標樣依據實(shí)驗步驟制樣后,連續測試6次,得出其標準偏差,而3倍的標準偏差就是該組分的方法檢出限。 方法檢出限 6. 精密度 選取GBW07121、GBW07123兩個(gè)標準樣品,按上述實(shí)驗步驟平行制備12個(gè)玻璃熔片,于熒光光譜儀中測試得方法的精密度。 其結果如下: 精密度實(shí)驗 由上可得,各組分的RSD均<2%,說(shuō)明本方法具有良好的重現性。 ZSX PrimusIV型 波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀