

X射線(xiàn)熒光光譜儀測定鋯鈦礦中的主次成分-華普通用
X射線(xiàn)熒光光譜法測定鋯鈦礦中的主次成分
鋯鈦礦石作為一種重要的戰略性礦產(chǎn),準確分析鋯、鈦及其共伴生有用有害元素含量對綜合評價(jià)鋯鈦礦資源具有重要意義。
鋯鈦礦石是一種難溶礦石,很難被酸消解,幾乎不溶于氫氟酸外的其他酸。這給傳統的化學(xué)分析方法帶來(lái)較大的困難。
本文介紹采用偏硼酸鋰-四硼酸鋰熔融制樣與X射線(xiàn)熒光光譜法相結合的方法,測定鋯鈦礦中主次成分。
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儀器與試劑
波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus III+
全自動(dòng)電熱熔樣機
鉑黃坩堝
混合熔劑(49.75%四硼酸鋰+49.75%偏硼酸鋰+1.5%溴化鋰)
二氧化鋯,光譜純
二氧化鈦,光譜純
硝酸銨飽和溶液
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實(shí)驗步驟
取8.00g混合熔劑(四硼酸鋰—偏硼酸鋰—溴化鋰)置于鉑黃坩堝中,再取0.40g樣品平鋪于混合熔劑上(樣品與混合熔劑稀釋比為1:20),添加3滴硝酸銨飽和溶液后,在自動(dòng)熔樣機中以700℃預氧化后升溫至1050℃熔融制成玻璃樣片,于熒光光譜儀上進(jìn)行測定。
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標準樣品選擇
將鋯礦石國家標準物質(zhì)精礦樣品與光譜純二氧化鋯、二氧化鈦以不同比例混合以配制具有一定含量梯度的標準系列樣品,各成分含量范圍如下:

人工配置校準樣品中各成分含量范圍
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基體效應和譜線(xiàn)重疊效應
熔融制樣方法可以解決礦物效應和粒度效應,但是基體效應無(wú)法完全消除。因此采用理論α系數法和經(jīng)驗系數法相結合的方法進(jìn)行基體校正,采用數學(xué)回歸法進(jìn)行譜線(xiàn)重疊校正。
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方法檢出限
選取各個(gè)元素含量較低的標準樣品,按照實(shí)驗步驟處理好樣品,重復測定12次,計算測定結果的3倍標準偏差作為方法檢出限。

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方法精密度
按上述實(shí)驗步驟熔融GBW0715制成12個(gè)樣片,在同樣的實(shí)驗條件下進(jìn)行測試,統計測量結果,計算各成分的相對標準偏差如下:

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本方法與其他方法比較
選取兩個(gè)鋯鈦礦樣品,按照上述實(shí)驗步驟制樣測試,測定值與化學(xué)法對比。

本方法與化學(xué)法分析結果對比

波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus III+