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理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus IIInext

理學(xué)新一代波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IIInext，采用理學(xué)獨特的光路結構，使其成為質(zhì)量和生產(chǎn)控制等應用中通用XRF的理想選擇。
日本理學(xué)ZSX Primus 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

理學(xué)ZSX系列中最新的儀器，ZSX Primus沿襲了及時(shí)提供精確結果的傳統，無(wú)與倫比的可靠性，靈活性和簡(jiǎn)便性適合當今實(shí)驗室的各種挑戰
日本理學(xué)ZSX Primus IV 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

理學(xué)掃描型波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨特的上照射設計，完美契合粉末樣品測試需求，可以快速定量分析從Be（鈹）到U（鈾）的各種類(lèi)型樣品的成分分析。
日本理學(xué)Supermini 200波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀

Supermini200擁有改良的軟件功能和更為小巧的機身。作為臺式順序WDXRF，可以分析幾乎任何材料中從氧（O）到鈾（U）的元素。理學(xué)的Supermini200提供了低成本，高分辨率和低檢出限。
日本理學(xué)Simultix 15波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀

理學(xué)Simultix 15波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀，作為一款功能強大的元素分析分析工具，廣泛用于高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）的過(guò)程控制和品質(zhì)管控。
日本理學(xué)全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀TXRF 3760-華普通用

全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀表面污染計量測量離散點(diǎn)的元素污染或使用完整的晶圓圖
日本理學(xué)連續波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用

Rigaku 獨特的 ZSX Primus 400 連續波長(cháng)色散 X 射線(xiàn)熒光 (WDXRF) 光譜儀專(zhuān)為處理非常大或重的樣品而設計。
日本理學(xué)全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀TXRF-V310-華普通用

日本理學(xué)全反射 X 射線(xiàn)熒光光譜儀TXRF-V310通過(guò) VPD-TXRF 進(jìn)行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量
日本理學(xué)MiniFlex 600 臺式X射線(xiàn)衍射儀-華普通用

理學(xué)臺式X射線(xiàn)衍射儀系統將重新定義你所認為的X射線(xiàn)衍射儀方式。
理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀 ZSX Primus IVi

理學(xué)波長(cháng)色散型X射線(xiàn)熒光光譜儀ZSX Primus IVi，采用下照式光路結構，能夠對液體、合金和電鍍金屬等樣品進(jìn)行無(wú)損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。
日本理學(xué)波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀WDA 3650-華普通用

波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線(xiàn)熒光分析儀同時(shí)對各種薄膜的薄膜厚度和成分進(jìn)行無(wú)損、非接觸式分析
日本理學(xué)SmartLab帶制導軟件的自動(dòng)多用途X射線(xiàn)衍射儀（XRD）

日本理學(xué)SmartLab帶制導軟件的自動(dòng)多用途X射線(xiàn)衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計量、SAXS、面內散射、操作測量

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