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SPECTROCUBE 偏振能量色散X熒光分析儀 ED-XRF
全新的SPECTROCUBE型ED-XRF分析儀為各種應用提供簡(jiǎn)單、可靠、準確、高通量的分析,在貴金屬分析、燃料和潤滑油、RoHS合規檢測及各種篩分分析尤為優(yōu)秀。 -
德國斯派克ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀GREEN
采用垂直同步雙觀(guān)測 (DSOI)技術(shù)的ICP-OES等離子體發(fā)射光譜儀 SPECTROGREEN -
德國斯派克全譜電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀 ICP(ARCOS)
專(zhuān)利的密封充氣紫外光學(xué)系統,全譜CCD技術(shù)和多視角等離子體定位等新技術(shù),高靈敏度、高精度以及波長(cháng)范圍寬。 全波長(cháng)覆蓋,130~770nm的波長(cháng)范圍,可分析ppm級鹵素 -
PHASE(菲斯)公司全自動(dòng)冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測儀-70Xi
眾多國際、國內分析標準均按照PHASE(菲斯)公司產(chǎn)品標準制定。 PHASE(菲斯)公司全自動(dòng)冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)檢測儀-70Xi采取自動(dòng)脈沖壓檢測,冰點(diǎn)、傾點(diǎn)、凝點(diǎn)、濁點(diǎn)四大功能 -
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
使用顯微光譜法在微小區域內通過(guò)絕對反射率進(jìn)行測量,可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數分析。 可通過(guò)非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材料和多層膜。 測量時(shí)間 -
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據安裝現場(chǎng)需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環(huán)境下的最佳即時(shí)測量系統