蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia CrystalCT

先進(jìn)的商用晶體成像微米CT系統

蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia CrystalCT是為您揭示樣品晶體信息和微觀(guān)結構秘密的開(kāi)創(chuàng )性微米CT。本產(chǎn)品以其獨特方式擴展了計算機斷層掃描的強大技術(shù)，使其具有展示晶體晶粒微觀(guān)結構的能力，改變了研究多晶體材料（如金屬、增材制造、陶瓷等）的方式，從而為您的材料研究帶來(lái)更新、更深的洞見(jiàn)。

產(chǎn)品亮點(diǎn)

CrystalCT投影光路圖示。CrystalCT提供雙重模式：吸收襯度斷層掃描（ACT）和衍射襯度斷層掃描（DCT）鋁-4wt%銅樣品，測量斷面尺寸為（長(cháng)度）1.25 mm、（寬度）1.0 mm、（厚度）0.5 mm。圖像是使用高縱橫比的黃金螺旋掃描樣品而得。對鋼筋混凝土樣品進(jìn)行定量體積分析?？紫朵秩緸樽仙?。

DCT為您的研究帶來(lái)更多的可能性

蔡司研究顯微鏡解決方案部門(mén)和Xnovo Technology合作提供了革命性的實(shí)驗室衍射襯度斷層掃描（DCT）功能。使用3D晶粒成像，微米CT上的DCT令技術(shù)和工業(yè)研究實(shí)驗室能夠對單相多晶材料進(jìn)行3D成像，包括多種金屬、礦物、陶瓷、半導體和制藥樣品。專(zhuān)用的蔡司Xradia CrystalCT兼具了精準設計的小孔光闌和擋光板組件，從而可以利用發(fā)散的多色X射線(xiàn)束來(lái)照亮感興趣區域，并提高對多晶樣品較弱衍射信號的靈敏度。創(chuàng )新的DCT圖像采集模式消除了對大尺寸樣品的限制，讓您能夠研究更多的樣本類(lèi)型。無(wú)縫大體積晶粒成像讓掃描樣品的速度更快，數據代表性更準確。

先進(jìn)的衍射掃描模式，提供出色的樣品代表性

通過(guò)開(kāi)創(chuàng )性的衍射掃描模式，蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia CrystalCT推動(dòng)了材料表征、建模和研究。

• 提供出色的樣品代表性。

• 可以?huà)呙韪蟮臉颖倔w積。

• 簡(jiǎn)化樣品制備，可處理不規則/自然的樣品形狀。

• 提高速度。

• 應對樣品的獨特性。

這些先進(jìn)的模式克服了傳統DCT數據采集以前遇到的一些困難和挑戰。傳統數據采集會(huì )假設在所有的旋轉角度下，樣品感興趣區域（ROI）會(huì )通過(guò)孔徑觀(guān)察視野（FOV）得到完全的照明。受自然界黃金角的啟發(fā)，高級衍射掃描模式提供了黃金螺旋掃描模式，這樣便于管理各種樣品形狀和尺寸。

強大的微米CT平臺

蔡司利用其強大的Xradia技術(shù)，在微米CT上提供了業(yè)界知名的出色性能。憑借強大的平臺、由軟件靈活控制的X射線(xiàn)源/樣品/探測器定位，以及大型探測器陣列，您可以進(jìn)行高對比度、高質(zhì)量、高分辨率掃描。對整個(gè)物體或器件進(jìn)行成像，從而展示其內部細節的3D全景。更快的采集速度使您運行樣品的時(shí)間可以縮短，從而大大提高您的生產(chǎn)效率和盈利能力。無(wú)損CT也可以進(jìn)行原位和4D研究，從而實(shí)際了解各種條件隨時(shí)間推移的影響。蔡司X射線(xiàn)顯微鏡Xradia成像系統兼具久經(jīng)考驗的硬件架構與先進(jìn)的穩定性和漂移補償功能。正是由于這個(gè)平臺的出色穩定性，CrystalCT始終在拓展研究領(lǐng)域的微米CT前沿。