日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列

型號：MCPD系列

光譜儀（MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700）提供豐富選配套件以及客制化光纖，可依據安裝現場(chǎng)需求評估設計，是一套可靈活架設于各種環(huán)境下的最佳即時(shí)測量系統

服務(wù)熱線(xiàn) 0755-86677030

產(chǎn)品描述

分光光譜儀種類(lèi)

膜厚測量

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜涂布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜

膜厚測量(分光光譜儀 + 顯微鏡)

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能性薄膜、包裝膜。

影印機感光鼓膜厚度量測

半導體晶圓膜（氧化膜、氮化膜、光阻膜）光阻剝離液厚度、濕狀薄膜塗布膜（Coating膜、蒸鍍膜、接著(zhù)劑、亞克力樹(shù)脂、光碟片膜層、薄膜磁頭）樹(shù)脂膜（PET、PP、PE、PC、Nylon）、機能能性薄膜、包裝膜

LB膜測量

蒸餾膜測量

多點(diǎn)膜厚測量