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波長(cháng)色散X熒光光譜儀 ZSX Primus III+在軟磁材料中的應用

發(fā)表日期:2023/05/04 瀏覽次數:

軟磁材料即具有低矯頑力和高磁導率磁性材料。軟磁材料易于磁化,也易于退磁,廣泛用于電工設備和電子設備中。發(fā)展促進(jìn)了我國移動(dòng)通訊、光伏新能源、新能源汽車(chē)及其充電設施、云計算、大數據、人工智能等新興產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,也使家用電器、電腦及其外設、節能照明、電磁兼容、工業(yè)自動(dòng)化等傳統產(chǎn)業(yè)長(cháng)久不衰。

高純氧化鐵是生產(chǎn)軟磁材料的主要原料,氧化鐵中主成分雜質(zhì)元素的含量直接影響該產(chǎn)品的質(zhì)量和級別。該材料主量氧化鐵含量在 99.x%,雜質(zhì)Al2O3等含量低達 0.00x。傳統采用ICP方法檢測氧化鐵中SO4 2-、CaO、SiO2、Al2O3、MnO,采用化學(xué)法測定Fe2O3 、 Cl -的含量。整個(gè)分析過(guò)程工作量大、周期長(cháng)、人為誤差大。XRF法具有能測定主量氧化鐵和微量雜質(zhì),且簡(jiǎn)便快速、成本低、人為誤差小的優(yōu)勢,在對軟磁鐵氧體的分析中應用廣泛。

由于主量元素高達 99x%,要求分析精度相當高,而次量元素皆輕元素,SiO2、A12O3只有幾十ppm,又要求多元素連續測定,粉末壓片法是唯一可選辦法。由于直接壓片成型率低及主量元素精度較差,故采用加入粘結劑。

日本理學(xué)ZSX Primus III+波長(cháng)色散X熒光光譜儀采用上照式方式即光管在樣品上方,能夠避免粉末壓片樣品上的粉末微塵掉落到光管以及分光室中,造成損壞,確保了儀器的安全。

波長(cháng)色散X熒光光譜儀 

ZSX Primus III+波長(cháng)色散X熒光光譜儀

為驗證方法的精密度,在一倜月內的不同日期、不同操作人員對3個(gè)樣品各進(jìn)行了15次測量,每次間隔110天不等,結果如下。不同樣品、日期及不同操作人員分析結果

樣品號

CaO

SiO2

Al2O3

MnO

Cl-

SO42-

Fe2O3

1化學(xué)值

0.017

0.007

0.004

0.23

0.10

0.014

99.30

標準偏差

0.0007

0.0015

0.0012

0.0013

0.0067

0.0019

0.038

2化學(xué)值

0.017

0.007

0.004

0.23

0.13

0.0127

99.30

標準偏差

0.0008

0.0015

0.0021

0.001

0.0085

0.0014

0.038

3化學(xué)值

0.017

0.009

0.002

0.25

0.07

0.011

99.40

標準偏差

0.0005

0.00074

0.0019

0.001

0.0084

0.0015

0.022

 


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