采礦-地質(zhì)化學(xué)

ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀在采礦和地質(zhì)化學(xué)領(lǐng)域，斯派克的先進(jìn)分析儀獨領(lǐng)風(fēng)騷

元素分析是勘探和采礦過(guò)程中最重要的調查手段之一。X射線(xiàn)熒光（ED-XRF）光譜儀為巖石、勘探樣本、礦物、礦石、富集礦和尾礦的分析提供了方便快捷的方法，通常需要遠少于其他技術(shù)的樣本制備工作。
針對樣品量大、要求分析時(shí)間短、尤其是輕元素檢出限低，ICP-OES 等離子體發(fā)射光譜儀提供了所需性能。兩種技術(shù)均可輕松實(shí)現自動(dòng)化，不到兩分鐘即可完成樣本分析，達到亞ppm（百萬(wàn)分之一）和ppb（十億分之一）范圍的檢出限。