高分辨率ICP-OES優(yōu)異的光學(xué)性能

光學(xué)系統是光譜分析儀器的心臟。PQ9000高分辨率ICP-OES獨特的分光設計，將中階梯光柵的分辨率提高到極致，遠遠超過(guò)了當今平面光柵的性能。

德國耶拿PQ9000高分辨率ICP-OES采用性能優(yōu)異的卡爾蔡司原裝光學(xué)系統，光學(xué)分辨率高，采用最少的光學(xué)器件，保證最大的光通量，石英涂膜光學(xué)部件，確保儀器經(jīng)久耐用，雜散光最低。

-  PQ9000高分辨率ICP-OES采用原裝的卡爾蔡司光學(xué)系統，性能優(yōu)異

-  波長(cháng)從160~900nm連續覆蓋，能測167.022nm之A和894.347nm之Cs

-  優(yōu)于0.0004nm的波長(cháng)準確度

-  最佳的氖線(xiàn)動(dòng)態(tài)波長(cháng)校正，保證波長(cháng)的長(cháng)期穩定性和準確性

高性能的新一代CCD檢測器

PQ9000高分辨率ICP-OES采用高性能的新一代CCD檢測器，讀出速度更快，量子化效率更好，具有更高的紫外靈敏度和更高的像素分辨率，使用溫度高，暗電流小，從而獲得最準確可靠的分析結果。

-  高量子化效率和紫外高靈敏度的CCD陣列檢測器

-  像素分辨率優(yōu)于0.002nm

-  自動(dòng)選擇最佳積分時(shí)間，快速讀出

-  動(dòng)態(tài)檢測范圍大于6個(gè)數量級

-  同時(shí)記錄元素線(xiàn)與其直接光譜環(huán)境，自動(dòng)扣除背景

-  快速恒溫:-6~-10℃，Peltier制冷，≤5min，開(kāi)機即測

原創(chuàng )文章，轉載請標明出處：http://www.tksuu.cn