分析速度快：
  部分用戶(hù)更加關(guān)注分析速度而非進(jìn)度，SPECTRO-XEPOS X射?線(xiàn)熒光光譜儀可以滿(mǎn)足這類(lèi)要求，幫助操作人員大幅縮減測量時(shí)間，而獲得的進(jìn)度水平卻不屬于傳統的ED-XRF光譜儀。該系統分析速度快，只需要數分鐘即可完成大部分楊平的分析工作。
  超預期的經(jīng)濟性：
  該儀器通過(guò)多種策略降低用戶(hù)長(cháng)期持有使用成本，比如在分析液體和粉末的輕元素時(shí)，進(jìn)行低速氦氣吹掃而對固體樣品測試則采用的真空系統。最重要的是各項新功能確保其性能可同更昂貴的WD-XRF技術(shù)相媲美。因此，SPECTRO-XEPOS X射線(xiàn)熒光光譜儀用戶(hù)以ED系列的價(jià)格獲得了WD系列的性能！憑借自適應激發(fā)等先進(jìn)技術(shù)，我們推出了數款預置機型，最大程度滿(mǎn)足購買(mǎi)者的特定分析需求。用戶(hù)可以根據測量速度、最終精確度或特定基體的分析目標元素來(lái)自由選擇。
  無(wú)與倫比的精確：
  與大多數的ED-XRF分析儀不同，SPECTRO XEPOS的X射線(xiàn)管在測量期間始終處于開(kāi)啟狀態(tài)，從而避免開(kāi)/關(guān)時(shí)參數變化對讀數的影響，并確保良好的長(cháng)期穩定性，有助于充分發(fā)揮儀器的超高靈敏度，提升元素分析精度-比以往提高3倍。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是可以顯著(zhù)提高從痕量元素到主量成分所有濃度區間的分析準確性。
  更低的檢測限：

  SPECTRO-XEPOS X射線(xiàn)熒光光譜儀組合先進(jìn)組件來(lái)打造頂尖性能。它采用新型高計數率探測器和高性能射線(xiàn)管設計來(lái)實(shí)施專(zhuān)屬的自使用激發(fā)計數，優(yōu)化分析性能，進(jìn)而提升靈敏度，減輕背景干擾，大幅降低元素的檢測限。

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